Aanschaf Dual Beam Focussed Ion Beam en Scanning Elektronen Microscoop (FIB-SEM) voor het NFI

Binnen het Nederlands Forensisch Instituut - afdeling Digitale & Biometrische sporen Team Device Forensics – Chips - is behoefte ontstaan aan de vervanging van de huidige dual-beam elektronenmicroscoop. Deze microscoop speelt een belangrijke rol bij het verkrijgen van belangrijke forensische gegevens uit beveiligde geïntegreerde schakelingen (IC’s of chips) in mobiele telefoons - opslagapparaten zoals USB-sticks en externe harde schijven. Door de inzet van deze microscoop kunnen hardwarematig beveiligde chips toch worden aangevallen als de softwarematige toegang afgesloten is. Met behulp van de elektronenbundel kunnen de kleinste details van de opbouw van geïntegreerde schakelingen worden bekeken en kan de werking worden gevolgd zonder schade aan te richten. Door middel van de extra ionenbundel (vandaar de naam dual-beam) kunnen de geïntegreerde schakelingen ook gewijzigd worden....